【編  號】124/續173
　　【題　名】聚四氟乙烯多孔薄膜駐極體的電荷儲存穩定性
　　【關鍵詞】聚四氟乙烯 多孔薄膜 駐極體 電荷儲存穩定性
　　【文　摘】利用在室溫和高溫下的柵控恒壓電暈充電，常溫電暈充電后經不同溫度老化處理后的表面電位衰減測量，及開路熱刺激放電（Thermally Stimulated discharge,TSD0研究了正負充電后PTFE（Polytetrafuoroethylene)多孔薄膜駐極體的電荷儲存穩定性。PTFE多孔膜，PTFE非多孔膜（Teflon PTFE)和FEP（Tetrafluoroethylene-hexa-fluoroprpylene Copolymer)非多孔膜（Teflon FEP)間的電荷儲存穩定性的比較研究也已進行。通過等溫退極化程序，對上述三種薄膜駐極體的電荷儲存壽命（有效時間常數）τ進行了定量估算。結果指出：在有機駐極體材料中，對正負充電后兩種極性駐極體樣品的PTFE多孔薄膜駐極體均呈現最優異的電荷儲存穩定性，尤其是在高溫條件下。通過掃描電鏡（SEM）對這種新結構的氟聚合物駐極體材料的突出電荷儲存能力和結構根源也已初步討論。