【編　號】2004-87
　　【篇　名】恒流電暈充電對聚四氟乙烯多孔薄膜駐極體駐極態的影響
　　【摘　要】利用常溫下恒流和恒壓電暈充電、充電后的等溫表面電位衰減、熱刺激放電和掃描電鏡等實驗手段研究了恒流和恒壓電暈充電技術對聚四氟乙烯多孔薄膜駐極體駐極態的影響.與恒壓電暈充電相比較,恒流電暈充電時由于流過薄膜的電流恒定,增加了注入電荷在多孔結構厚度方向界面處的俘獲概率,使沉積電荷密度上升,改善了駐極體的儲電能力.然而,這些位于不同層深多孔界面處的俘獲電荷在這類功能膜儲存或使用過程中,經外激發從脫阱位置以跳動(hopping)模式輸運至背電極的路徑相對縮短將導致脫阱電荷衰減較快