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              專利發明

              2010年氟塑料專利匯編

              一種測量聚四氟乙烯粉體平均粒徑及其粒徑分布的方法

              【編號】2010-42 

              【名稱】一種測量聚四氟乙烯粉體平均粒徑及其粒徑分布的方法

              【摘要】本發明提供了一種測量聚四氟乙烯粉體平均粒徑(D50,又稱中位徑)及其粒徑分布的方法,其包括以洗潔精/異丙醇為浸潤體系,以水為分散介質,用激光粒度儀測量分散體系中聚四氟乙烯粉體的平均粒徑及其粒徑分布,適于2μm-300μm的聚四氟乙烯粉體平均粒徑的測量;以及,以壓縮氣體為分散介質,將分散壓力控制在0.4~1.0bar,用激光粒度儀測量分散體系中聚四氟乙烯粉體的平均粒徑及其粒徑分布,適于200μm-1000μm的聚四氟乙烯粉體平均粒徑的測量。本發明的方法能夠方便、快速、穩定地測量聚四氟乙烯粉體的平均粒徑及其粒徑分布,適于2μm-1000μm聚四氟乙烯粉體平均粒徑的測量。


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